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高溫四探針測試儀結構組成及應用范圍概述

日期:2021-01-26瀏覽:1947次

高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。

是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的阻抗特性測量需求而設計的。它由硬件設備和測量軟件組成,包括高溫測試平臺、高溫四探針夾具、電阻率測試儀和高溫電阻率測量系統(tǒng)軟件四個組成部分。
測試應用范圍
高溫四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。根據(jù)不同材料特性需要,配有多款測試探頭:
1)高耐磨碳化鎢探針探頭,測量硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;
2)球形鍍金銅合金探針探頭,測量柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻;
3)配合四端子測試夾具,測量電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻;
4)高溫四探針測試儀探頭可測試電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。

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