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2022-06-23
阻抗分析儀主要適用對(duì)象為各類超聲器件阻抗特性的測(cè)量，阻抗分析儀的特點(diǎn)是：易用、指標(biāo)和圖形相結(jié)合、參數(shù)、對(duì)生產(chǎn)的可指導(dǎo)性強(qiáng)等。HC6630阻抗分析儀，支援各式各樣的測(cè)試治具與配件，例如可搭配介電系數(shù)治具，使PCB板設(shè)計(jì)人員能充分了解材料的介電特性以便精準(zhǔn)的Layout線路，減少產(chǎn)品不佳的情況發(fā)生，導(dǎo)磁系數(shù)治具，各種環(huán)形磁芯或鐵氧體磁芯及電磁屏蔽涂層材料的導(dǎo)磁系數(shù)量測(cè)，和懸臂治具，各種尺寸貼片元件或電路板上元件阻抗量測(cè)。讓量測(cè)步驟變得更為簡(jiǎn)易及快速。HC6630為分析電子元件、和...2022-06-22
電壓擊穿試驗(yàn)儀，又叫電壓擊穿測(cè)試儀，主要適用于固體絕緣材料如：塑料、薄膜、樹(shù)脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試。儀器規(guī)格型號(hào)選擇：HCDJC-20KV主要適用于橡膠，絕緣漆漆膜，聚氨酯，硫化橡膠等。HCDJC-50KV主要用于電纜紙，電容器紙，云母，陶瓷。HCDJC-100KV適用于玻璃，層壓材料，橡膠，樹(shù)脂。HCDJC-150KV適用于塑料、橡膠、層壓材料、薄膜、樹(shù)脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等絕緣材料。功能及特點(diǎn)：電壓擊穿試...2022-06-21
HCDJC-100KV電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)材料的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗(yàn)。適用于對(duì)固體絕緣材料(如：絕緣漆、樹(shù)脂和膠、浸漬纖維制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等)在工頻電壓下?lián)舸╇妷海瑩舸?qiáng)度和耐電壓的測(cè)試。儀器對(duì)實(shí)驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)快速、進(jìn)行采集、處理、存取、顯示、打印。電壓擊穿試驗(yàn)儀主要適用于固體絕緣材料在工頻電壓下?lián)舸╇妷?、擊穿?qiáng)度和耐電壓的測(cè)試。電壓擊穿試驗(yàn)儀滿足GB1408-2006絕緣材料電氣...2022-06-15
固體電介質(zhì)電擊穿的理論是以在介質(zhì)中發(fā)生碰撞電離為基礎(chǔ)的。它不包括由邊緣效應(yīng)、介質(zhì)劣化等因素引起的擊穿。固體電介質(zhì)的中間存在少量處于導(dǎo)電能量狀態(tài)的電子(傳導(dǎo)電子)。它在電場(chǎng)加速下將與晶格點(diǎn)上的原子碰撞，但因固體介質(zhì)中的原子相互聯(lián)系十分緊密，所以必須考慮傳導(dǎo)電子與晶格碰撞。由碰撞電離引起擊穿有下述兩種解釋：固體擊穿理論是考慮單位時(shí)間傳導(dǎo)電子從電場(chǎng)中獲得的能量與單位時(shí)間內(nèi)由于碰撞而失去的能量之間，因不平衡而引起擊穿；另一種擊穿理論則認(rèn)為：傳導(dǎo)電子由電場(chǎng)作用得到了可使晶格原子電離的能...2022-06-10
主要適用于固體絕緣材料如絕緣漆、樹(shù)脂和膠、浸漬纖維制品、云母及其制品、塑料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試。技術(shù)要求：1、輸入電壓:AC220V2、設(shè)備功率:2kVA2、高壓輸出:20kV(交流、直流)3、電壓精度:4、電流輸出:60mA5、電流精度:6、升壓速度:100V/S*5000V/S(可設(shè)定)7、試驗(yàn)方式:擊穿試驗(yàn)、耐壓試驗(yàn)、階梯試驗(yàn)8、耐壓時(shí)間:(可設(shè)定)9、設(shè)備尺寸:650mmX500mmX1400mm10、設(shè)備重...2022-06-07
手動(dòng)探針臺(tái)的應(yīng)用范圍微型真空探針臺(tái)是一款用于材料電學(xué)表征和測(cè)量的微型桌面型電學(xué)測(cè)量臺(tái)，主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)性能表征和測(cè)量，還可以在真空、氣氛環(huán)境下對(duì)材料進(jìn)行電學(xué)測(cè)量評(píng)估，是實(shí)驗(yàn)室測(cè)量薄膜材料電學(xué)材料B備工具，廣泛用于高校、科研、航天航空、軍工院所等領(lǐng)域。應(yīng)用：晶圓、芯片、LED測(cè)試、場(chǎng)晶體管、IGBT、分立器件等測(cè)試類型：IV/CV測(cè)試、RF測(cè)試、光電測(cè)試等搭配儀器：吉時(shí)利2400系列、4200系列、安捷倫B2900系列、1500系列等特點(diǎn)：超高...2022-06-02
高溫絕緣電阻測(cè)試儀采用微機(jī)技術(shù)設(shè)計(jì)為核心，以大規(guī)模集成電路和數(shù)字電路相組合，配有測(cè)量和數(shù)據(jù)處理軟件，完成絕緣電阻、電壓等參數(shù)測(cè)量，性能穩(wěn)定，操作簡(jiǎn)便。高溫絕緣電阻測(cè)試儀的電壓等級(jí)應(yīng)高于被測(cè)物的絕緣電壓等級(jí)。所以測(cè)量額定電壓在500V以下的設(shè)備或線路的絕緣電阻時(shí)，可選用500V或1000V絕緣電阻測(cè)試儀；測(cè)量額定電壓在500V以上的設(shè)備或線路的絕緣電阻時(shí)，應(yīng)選用1000～2500V絕緣電阻測(cè)試儀；測(cè)量絕緣子時(shí)，應(yīng)選用2500～5000V絕緣電阻測(cè)試儀。一般情況下，測(cè)量低壓電氣設(shè)...
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